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产品介绍
WCT-120PL是使用光致发光传感器的硅片寿命测试仪。WCT-120PL硅片寿命测试工包含了WCT-120仪器独特的测量和分析技术的同时，又增加了光致发光(PL) 传感器，以基于PL信号测试寿命和掺杂水平。准稳态导(QSSPC) 寿命测试方法和瞬态光电导衰减寿命测试方法都增补了校准的基于PL信号的寿命测试。也可以简单地将工具作为标准的WCT-120使用。
性能特点
- 一键识别硅片的关键特性
技术参数
- 产地：美国
- 是否进口：是
- 寿命测量范围：100 ns至大于10 ms
- 测量（分析）模式：QSSPC、瞬态和广义寿命分析
- 传感器区域：直径40 mm
- 保修：所有部件和软件的一年有限保修
- 标准：符合SEMI标准PV-13
- 环境工作温度：20°C–25°C
- 尺寸：宽22.5厘米x深28厘米x高57厘米
- 通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz
产品参数
津公网安备12010102000950号