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STANDA波长计SHR

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  • 品牌名称:STANDA
  • 规格型号:SHR
产品介绍

SHR 波长计是一种低成本高精度仪器,可用于测量激光波长,广泛应用于激光领域,以及固体激光器、二极管激光器、染料激光器和 OPO 的调整和测试过程。SHR 光学方案基于一个在高光谱阶数下工作的埃歇尔衍射光栅和一个用作探测器的线性图像传感器。该仪器不包含任何可移动元件;通过全速 USB 接口由计算机进行供电和控制。分析光通过装有衰减器的光纤进入 SHR 的输入狭缝。SHR 波长计可快速、方便地测量连续波激光器和脉冲激光器的abs波长值,在 190-1100 nm 的宽光谱范围内准确度可达 +/- 3 pm,还可检测分析线的 FWHM,分辨率为 30 000 (λ/Δλ<FWHM) ,紫外光谱范围为 6 pm,红外光谱范围为 40 pm。在调整分析波长的过程中,SHR 还能确保对上述数值进行在线监测。SHR 光谱仪不能直接用于分析等离子体和其他填充光谱,但可用于分析埃歇尔阶光谱宽度范围内的窄光谱区间--从 0.5 nm 的紫外光谱范围(190 nm)到 18 nm 的红外光谱范围(1200 nm),并使用滤波器或任何其他光谱设备进行初步分离。

性能特点

精度高、光谱范围广

光谱分析能力

适用于脉冲和 CW 激光器

设计紧凑;无可移动部件

带衰减器的光栅输入

新型的用户友好软件

可选功能与配件

扩散衰减器 FA-3:包含两个扩散石英玻璃和 SMA-905 连接器。

光纤端相对于扩散元件的轴向调整。

技术参数

产地:立陶宛

操作模式:CW 和脉冲(外部触发)

光谱范围:190 - 1100 nm

abs精度:+/- 3 pm

光谱分辨率(仪器功能,λ/ΔλFWHM):30 000(从 193 纳米的 6pm 到 1200 纳米的 40pm)

源线宽要求:<=125 cm-1(从 193nm 的 0.5nm 到 1200nm 的 18nm)

光学接口:在 632.8 nm波长下,Min曝光时间为 7 毫秒

功率:< 0.5 µW

计算机接口:直径 400 μm、长度 1000 mm连接器光纤

连接器光纤:SMA-905

扩散衰减器:FA-3

软件:WLMeter

尺寸:165 х 215 х 90 mm

重量:2.6 kg

产品应用

激光领域,以及固体激光器、二极管激光器、染料激光器和 OPO 的调整和测试过程

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