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APRE INSTRUMENTS干涉仪S系列

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产品介绍

APRE干涉仪 - 标准和定制 - 提高您的计量能力,使您可以满足客户的需求。从我们的 S 系列干涉仪中选择并构建适合您的系统。

在光学制造方面,不允许出现停机或不准确的情况。具有低成像分辨率和过时软件的干涉仪会牺牲时间和质量,从而削减利润并损害您的声誉。

性能特点
  • 1百万像素 @160 Hz 衍射极限成像
  • 10倍虚拟变焦
  • 2倍更大的斜率接受度
  • 快速、准确的表面和波前测量
技术参数
  • 输出直径:51 毫米(2 英寸)
  • 工作台的光学中心线:108 毫米(4.25 英寸)
  • 对焦范围:±2米
  • 尺寸(长 x 宽 x 高)63 x 29 x 18 厘米(24.8 x 11.4 x 7 英寸)
  • 重量:25 公斤(55 磅)
  • 对准系统:具有2° 捕获范围的十字线的 2 点
  • 激光源:稳频 SLM 633 nm HeNe(多种功率和 λ 选项)
  • 激光频率稳定性:<0.0001纳米
  • 相干长度:>100米
  • 输出极化:圆
  • 相机分辨率:2044 X 2044 像素 [1024 X 1024 像素]
  • 数字化:12位
  • 安装配置:水平或垂直
  • 温度:15º C 至 30º C(59º F 至 86º F)
  • 湿度:5 至 95% 相对,非冷凝
  • 隔振:推荐用于 PSI 和 VTPSI 的隔离系统
产品参数

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