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Sinton Instruments硅片寿命测试仪WCT-120PL

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产品介绍

WCT-120PL是使用光致发光传感器的硅片寿命测试仪。WCT-120PL硅片寿命测试工包含了WCT-120仪器独特的测量和分析技术的同时,又增加了光致发光(PL) 传感器,以基于PL信号测试寿命和掺杂水平。准稳态导(QSSPC) 寿命测试方法和瞬态光电导衰减寿命测试方法都增补了校准的基于PL信号的寿命测试。也可以简单地将工具作为标准的WCT-120使用。

性能特点
  • 一键识别硅片的关键特性
技术参数
  • 产地:美国
  • 是否进口:是
  • 寿命测量范围:100 ns至大于10 ms
  • 测量(分析)模式:QSSPC、瞬态和广义寿命分析
  • 传感器区域:直径40 mm
  • 保修:所有部件和软件的一年有限保修
  • 标准:符合SEMI标准PV-13
  • 环境工作温度:20°C–25°C
  • 尺寸:宽22.5厘米x深28厘米x高57厘米
  • 通用电源电压:100–240 VAC 50/60 Hz
产品参数

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