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Arden Photonics干涉仪VFI-2000

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产品介绍

VFI是世界各地行业的光子学公司的理想干涉仪。VFI-2000是一种干涉检测系统,专门用于检查切割或抛光光纤的表面质量和平面度。VFI将高的图像质量与易用性以及我们的客户对Arden产品的可靠性和稳健性结合,从而实现您可以信赖的光纤端面测量。使用VFI,用户可以在一系列不同的视图中查看光纤,包括2D和3D视图,让用户能够充分了解其切割或抛光过程。因此,它已经证明自己非常适合研究、生产或QA环境。

性能特点
  • 3种不同的视野
  • 平面和斜角解理
  • 检查和条纹模式
  • 自动或手动端角测量
  • 2D或3D测量模式
  • 三维端面高度图
  • 2D测量-实时;三维测量
  • 7秒以下
  • 高度数据可以保存为csv文件
  • 数据输出为Excel或HTML报告
技术参数

产地:英国

视野:max.2000µm,带x1.5、x2、x3和x6数字变焦

图像传感器:1/1.8英寸CMOS阵列,12位,6.4MP

摄像头传感器尺寸:3088 x 2076像素,2.4µm平方像素

LED波长:525 nm

可测量解理角(不使用倾斜光纤支架)

2D模式:8°

3D模式:4°

测量时间

2D模式:实时

3D模式:<7 s

高度分辨率:0.01µm

尺寸:240(宽)x 240(深)x 90(高)mm

重量:3 kg

连接到计算机:USB 3.0(USB类型B到USB A;提供1米电缆)

供电:通过USB供电

操作系统:支持Windows 7/8/10 64位

计算机要求:4GB RAM;USB 3.0端口;64位

工作温度:10–30°C

产品应用

切割机制造

切割机维护

激光制造

光纤研发、专业光纤制造

斜角切肉刀的开发和测试

装置清管器尾矿

LDF切割机制造/维护

光纤端盖制造

多光纤束制造

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