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scia Systems离子束蚀刻系统scia Mill 150

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产品介绍

scia Mill 150 专为构造各种材料的复杂多层而设计。凭借其完全反应气体兼容性,该系统还能够以增强的选择性和速率进行反应蚀刻工艺。由于其节省空间的设计,scia Mill 150 非常适合小规模生产和研发应用。

性能特点
  • 蚀刻角度可通过可倾斜和可旋转的基板支架进行调整
  • 无需整形器即可实现好的均匀性
  • 使用反应气体增强选择性和速率
  • 使用准确的 SIMS 或光学终点检测进行过程控制
  • 载体概念可适应各种基板尺寸
  • 由于良好的晶圆冷却,可使用光刻胶掩模处理晶圆
技术参数

产地:德国

基片尺寸(max):直径150 mm。

基片支架:水冷,氦气背面冷却接触,基片旋转1至20 rpm,可原位倾斜0°至165°,步长0.1°

离子束源:190 mm圆形微波ECR源(MW218-e)

中和器:三重等离子桥中和器(N-3DC)

射频等离子桥中和器(RF-PBN)

基准压力:< 5 x 10-7 mbar

系统尺寸(宽x深x高):1.90 m x 1.80 m x 1.75 m(不含电气架)

配置:单腔,可选单基片负载锁,可选OES或SIMS终点检测

软件接口:SECS II / GEM,OPC

典型去除率:SiO2:30 nm/min

均匀性变化:≤3 %(σ/平均值)

产品应用

磁存储器 (MRAM) 和传感器 (GMR、TMR) 的结构化

MEMS 生产中的金属铣削 (Au、Ru、Ta 等)

不同金属和介电材料多层的铣削

化合物半导体 (GaAs、GaN、InP 等) 的化学辅助离子束蚀刻 (CAIBE)

三维光电微结构的生产

用于降低微观粗糙度的离子束平滑

用于光栅 (SiO2) 图案转移的反应离子束蚀刻 (RIBE)

产品参数

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